目前任職於漢磊科技擔任測試工程師，負責晶圓CP/WAT電性測試與異常分析。參與公司內部QCC競賽，學習並實踐QC手法進行問題改善並優化報告表達方式。過去曾於半導體代工廠擔任良率精進工程師，具備Defect根因推演及程式優化經驗。具備快速學習與跨部門溝通能力，能靈活運用專業知識解決實務問題。