Zhonghe District, New Taipei City, Taiwan
1. IC載板缺陷之光學檢測設備
- 最終外觀自動檢測設備 (AFVI): 根據母片學料,分類PCBA多個區域之缺陷位置及種類,調整參數並套入檢測料片,最終得出檢測結果。
- 自動拍照機 (AICM): 配合AFVI之缺陷資訊,拍攝出缺陷影像並進行料片分類。可搭配AI深度學習,能更精準且快速分辨缺陷的真實性。
- 人員複檢 (VS): 將AFVI及AICM之缺陷資訊供人員進行複檢,最後記錄到E-mapping檔案中。
2. E-mapping過站紀錄軟體
- FTP檔案之下載及上傳,確保檔案匯入過站資訊。